جهاز تحليل الكبريت Spectroscan SW-D3
جهاز محلل موثوق ودقيق يعتمد على تشتت الطول الموجي للأشعة السينية (WDXRF) لتحليل الكبريت في السوائل
جهاز تحليل الكبريت Spectroscan SW-D3
جهاز SPECTROSCAN SW-D3 هو جهاز محلل موثوق ودقيق يعتمد على تقنية تشتت الطول الموجي للأشعة السينية (WDXRF) لتحليل الكبريت في السوائل. يتيح تحديد سريع لمحتوى الكبريت الوزني بحد كشف منخفض يصل إلى 0.15 جزء في المليون.
يتوافق جهاز SPECTROSCAN SW-D3 بالكامل مع المعايير الدولية لتحليل الكبريت باستخدام تقنية WDXRF. التصميم المتقدم، القائمة البديهية، ومجموعة واسعة من المواد المرجعية المعتمدة (CRMs) والاستهلاكات في الحزمة الابتدائية تجعل العمل سهلاً حتى للمحللين غير المحترفين.
جهاز Spectroscan SW-D3 لتحليل الكبريت هو جهاز مكتبي مزود بحاسوب وطبّاعة مدمجين. يتكون من وحدتين: جهاز الطيف ومضخة التفريغ. يحتوي جهاز الطيف على نظام تبريد مائي ذو دورة مغلقة. مسار القياس يتم في غرفة تفريغ، بينما تكون العينة في الظروف المحيطة.
المزايا:
-
بفضل التصميم الأصلي لا يحتاج الجهاز إلى تدفق غاز الهيليوم، مما يوفر حد كشف يصل إلى 0.15 جزء في المليون.
-
سهل التشغيل.
-
جهاز مكتبي.
-
يتم عرض بيانات العينة ونتائج التحليل على الشاشة ويتم طباعتها بواسطة الطابعة المدمجة.
-
تم تطوير أكواب خاصة مهواة للعينات المتطايرة.
-
مغير عينة أوتوماتيكي بثلاثة مواقع يسهل تحليل العينات المكررة.
بسبب وضعية العينة الجانبية:
-
يُستبعد الخطأ الناتج عن فقاعات الماء والهواء.
-
يُستبعد تلوث الأجزاء الداخلية للجهاز.
-
يُستبعد الخطأ الإضافي الناتج عن تلوث غشاء الحماية الإضافي.
-
وحدة تحميل العينات سهلة التنظيف.
أقل تدخل من المشغل:
-
إدخال رقم أو اسم العينة من لوحة المفاتيح المدمجة.
-
تعبئة كوبين بالعينات.
-
وضع العينات في الجهاز وبدء القياسات.
جميع العمليات الأخرى تتم تلقائياً.
التطبيقات:
-
يوفر جهاز SPECTROSCAN SW-D3 تحديد محتوى الكبريت الوزني في جميع أنواع السوائل بحد كشف منخفض يصل إلى 0.15 جزء في المليون.
-
يتوافق الجهاز بالكامل مع المعايير الدولية لتحليل الكبريت باستخدام تقنية WDXRF.
Measurement principle |
Wavelength dispersive X-Ray fluorescence (WDXRF) |
---|---|
Limit of detection for 200 s |
0.15 ppm |
Measurement range of Sulfur, ppm |
from 2,0 up 50000 |
Limit of acceptable absolute accuracy, ppm |
&plusm;(0,04·X+1,1) Where X – mass fraction of Sulfur, ppm |
Sulfur concentration range |
from 0 ppm to 5,0% |
Detector (Type of sulfur line detection) |
Crystal diffraction |
Crystal analyzer |
С(002) – pyrolitic carbon |
X-ray tube anode |
Cr or Pd |
Measurement time |
from 8 minutes |
Sample changer |
Automatic lateral loading for 3 sample cups |
Sample cups, diameter, volume |
∅32 mm, V 8 cm3 ,∅32 mm, V 8 cm3, ventilated |
X-ray tube capacity |
less 200 W |
User interface |
display, thermo printer |
Results print-out |
Built-in thermal printer |
Outputs |
RJ-45, RS-232, USB |
Dimensions |
330х230х380 mm – vacuumpump ,530х480х340 mm– spectrometer |
weight |
40 kg– spectrometer ,9 kg – vacuumpump |
Power supply |
220 V, ~ 50 Hz, 750 W |