SPECTROSCAN SE
محلل الكبريت بتقنية EDXRF
جهاز لتحليل وتحديد كمية الكبريت في السوائل باستخدام تقنية التحليل الطيفي بالأشعة السينية المشتتة للطاقة (EDXRF)
الوصف
جهاز Spectroscan SE مصمم لتحديد سريع ودقيق وموثوق لمحتوى الكبريت الوزني في جميع أنواع السوائل تقريبًا.
يعتمد Spectroscan SE على طريقة التحليل الطيفي بالأشعة السينية المشتتة للطاقة (EDXRF)، وهي طريقة سهلة التشغيل، لا تتطلب معالجة مسبقة للعينة، وتوفر نتائج دقيقة بسرعة عالية وتكرارية ممتازة.
يتوافق جهاز التحليل تمامًا مع المعايير الدولية لتحليل الكبريت باستخدام تقنية EDXRF.
الميزات والفوائد:
- كمبيوتر لوحي مدمج بشاشة لمس ملونة 7 بوصة، يتيح مرونة في إنشاء معايرات المستخدم.
- تصميم مبتكر يضع أنبوب الأشعة السينية والكاشف إلى جانب حجرة العينة، مما يحمي المكونات البصرية الباهظة من انسكاب العينة.
- لا حاجة لاستخدام غشاء حماية للكاشف، مما يحسّن الدقة ويخفض حد الكشف (LOD) إلى 1.5 جزء في المليون (ppm).
- لا حاجة لاستخدام الهيليوم (He) كغاز طرد، بفضل التصميم الجانبي.
- سهولة التشغيل، لا حاجة للتركيب.
- مناسب للمختبرات المتنقلة.
- عرض بيانات العينة والنتائج على الشاشة وطباعتها من الطابعة المدمجة.
- أكواب مهواة خاصة للعَيّنات المتطايرة.
مزايا تصميم الوضع الجانبي للعينة:
- استبعاد الخطأ الناتج عن فقاعات الماء أو الهواء.
- منع تلوث الأجزاء الداخلية للجهاز.
- استبعاد الأخطاء الناتجة عن تلوث غشاء الحماية الإضافي.
- سهولة تنظيف وحدة إدخال العينة.
خطوات تشغيل مبسطة:
- إدخال اسم أو رقم العينة عبر لوحة المفاتيح المدمجة.
- تعبئة كوبين بالعينة.
- وضع الأكواب داخل الجهاز وبدء القياس.
جميع الخطوات الأخرى تتم تلقائيًا.
المعايير التي يتوافق معها الجهاز:
- GOST 32139-2019 / ASTM D4294-16
المنتجات النفطية – تحديد محتوى الكبريت بواسطة التحليل الطيفي بالأشعة السينية المشتتة للطاقة. - GOST R 51947-2002 / ASTM D4294-98
المنتجات النفطية – تحديد محتوى الكبريت باستخدام EDXRF. - GOST R EN ISO 20847-2010 و GOST ISO 20847-2014 / ISO 20847:2004
المنتجات البترولية – تحديد الكبريت في الوقود باستخدام EDXRF. -
GOST ISO 8754-2013
المنتجات البترولية – تحديد الكبريت باستخدام التحليل الطيفي بالأشعة السينية المشتتة للطاقة.
معلومات إضافية
| Measurement principle | Energy dispersive X-ray fluorescence (EDXRF) |
|---|---|
| Detector | Gas-sealed proportional counter or silicon drift detector (SDD) as option |
| Limit of detection (LOD), at 200s measurement time | 1.5 ppm |
| Measurement range | 5 ppm – 5.0 % |
| Repeatability | less than 4.1 ppm for 100 ppm sample less than 200 ppm for 2.0 wt% sample |
| Measurement time | 10 – 999 seconds user selectable. Typical time for two repeats of one sample – 2 minutes |
| X-ray tube and sample geometry | Side position of X-ray tube and detector to sample compartment Prevents tube contamination in case of sample spill |
| Sample cup | Ventilated, Ø 32 mm, 7 mL volume |
| Calibration | Pre-uploaded calibrations for ASTM, ISO and other standards, up to 1 000 user calibration curves |
| User interface | 7-inch Color touch-screen Graphs and calibration plots display User, supervisor and service modes |
| Results print-out | Built-in thermal printer |
| Outputs | RJ-45, RS-232, USB LIMS-connection |
| Power supply | 230 ± 10% V 50 ± 1 Hz Less than 100 VA |
| Dimensions, W x D x H, less than, mm | 400 x 320 x 185 |
| Weight, less than, kg | 8.5 |
